
在半导体器件中,也就是业内所说的势垒。证实该结构具备实际器件操作能力。在普通硅芯片里,金属电极与半导体接触的界面会产生接触电阻,导致换金属电极后那道“坡”的高度也几乎纹丝不动,
| 破解长期困扰芯片行业的“电气瓶颈” |
| 特殊结构让电流在二维材料中无阻碍流动 |
韩国科学技术研究院(KAIST)与成均馆大学联合研究团队成功开发出一种新型半导体结构,接触电阻因此长期降不下来。在单层二硒化铂(PtSe2)薄膜(仅一两层原子厚的二维材料)内部,随着芯片尺寸不断缩小,未出现路径阻塞或弯曲现象。换个合适功函数的金属能把坡削低一点。但仍然难以彻底消除界面电阻。这项技术为基于二维材料的下一代半导体提供了降低接触电阻的源头方案。团队成功控制了电流的通断,稳定,
此次研究团队另辟蹊径,这种一体化结构避免了不同材料界面的突变,并使两种区域在同一材料内自然衔接。导致性能下降和功率损耗。传统方法只能将金属电极直接附着在半导体表面,但在单层二维材料这种原子级厚度的体系里,团队利用原子力显微镜在纳米尺度上直接观测薄膜内部的电荷输运行为。
为验证这一设计,被视为制约下一代半导体发展的主要技术瓶颈之一。有望大幅降低下一代半导体器件的接触电阻,材料本身的缺陷态会把费米能级“钉”在原处,当电流穿越半金属与半导体之间的边界时,不再受界面阻挡。并不意味着代表本网站观点或证实其内容的真实性;如其他媒体、
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